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產(chǎn)品大類

日本日置阻抗分析儀IM3570

儀器名稱：阻抗分析儀
儀器品牌：日本日置
儀器型號(hào)：IM3570
送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi)
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳
本站售價(jià)：洽詢
關(guān)鍵參數(shù)：新產(chǎn)品的特點(diǎn) 1.不同測(cè)量條件下，1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量測(cè)量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目，1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量儀器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量，1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。 2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比) 和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下，以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中，IM3570發(fā)揮了作用。 3.測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ，100次測(cè)量時(shí)) 功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí)，要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位，因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。

性能參數(shù)介紹

軟件下載：無

資料下載：無

產(chǎn)品介紹

阻抗分析儀IM3570

研發(fā)背景

IM3570將用于線圈、電容、壓電元件等電子零部件生產(chǎn)線上的檢查，另外還適用于大學(xué)和企業(yè)研究部門的開發(fā)方面。

阻抗分析儀是什么？

阻抗分析儀是以讓測(cè)量頻率和測(cè)量電壓連續(xù)變化的同時(shí)，掃描測(cè)量被測(cè)物的特性為主要功能。可用于如線圈、變壓器、電容、壓電元件的開發(fā)和檢查等用途中。因此，阻抗分析儀對(duì)于復(fù)蘇中的電子零部件市場，可以說是不可欠缺的測(cè)量儀器。

※阻抗：交流電路中電流不容易流通的程度。單位為Ω。

新產(chǎn)品的特點(diǎn)

1.不同測(cè)量條件下，1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量

測(cè)量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目，1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量儀器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量，1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。

2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比)

和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下，以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中，IM3570發(fā)揮了作用。

3.測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ，100次測(cè)量時(shí))

功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí)，要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位，因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。

4.廣范圍的測(cè)量頻率

IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)?？稍诮咏舱耦l率的測(cè)量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量和評(píng)價(jià)。

5.15種測(cè)量參數(shù)

可測(cè)量Z、Y等15種參數(shù)，并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。

6.具備防止誤操作的接觸檢查功能

裝載了4端子測(cè)量、2端子測(cè)量的接觸檢查功能。防止在測(cè)量電極不接觸被測(cè)物的狀態(tài)下測(cè)量的情況，因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。

7.廣范圍的測(cè)量電壓/電流

外加一般的開路信號(hào)發(fā)生，可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測(cè)量。可設(shè)置廣范圍的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的測(cè)量信號(hào)電平。

8.8. 測(cè)試線可延長至4m

4端子的構(gòu)造可降低測(cè)試線的影響，測(cè)試線長達(dá)4m仍可保證精度。從而便于自動(dòng)設(shè)備的配線。

IM3570的主要參數(shù)

測(cè)量模式	LCR模式：單一條件下測(cè)量分析儀模式：根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量電平進(jìn)行掃描 (測(cè)量點(diǎn)：1~801，掃描方法：一般掃描/分區(qū)掃描，顯示：列表顯示/圖表顯示) 連續(xù)測(cè)量模式：連續(xù)測(cè)量保存的條件(最多32個(gè))
測(cè)量參數(shù)	Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
測(cè)量量程	100mΩ~100MΩ，12檔量程(所有參數(shù)都根據(jù)Z來確定)
基本精度	Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測(cè)量頻率	4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進(jìn))
測(cè)量信號(hào)電平	普通模式： V模式、CV模式：5mV~5Vrms(1MHz以下)， 10mV~1Vrms(1MHz~5MHz)，1mVrms步進(jìn) CC模式：10μA~50mArms(1MHz以下) 10μA~10mArms(1MHz~5MHz)，10μArms步進(jìn) 低阻抗高精度模式： V模式、CV模式：5mV~1Vrms(100kHz以下)， 1mVrms步進(jìn) CC模式：10μA~100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程)， 10μArms步進(jìn)
輸出阻抗	普通模式：100Ω 低阻抗高精度模式：10Ω
顯示	彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示開或關(guān)
顯示位數(shù)設(shè)置	可設(shè)置3~7位的顯示位數(shù)，初始值為6位
測(cè)量時(shí)間	0.5ms(100kHz、FAST、顯示關(guān)，代表值)
測(cè)量速度	FAST/MED/SLOW/SLOW2
DC偏壓測(cè)量	普通模式：DC0V~2.50V(10mV步進(jìn)) 低阻抗高精度模式：DC0V~1.00V(10mV步進(jìn))
直流電阻測(cè)量	普通模式：測(cè)量信號(hào)電平 DC100mV~2.5V(10mV步進(jìn)) 低阻抗高精度模式：測(cè)量信號(hào)電平 DC100mV~1.00V(10mV步進(jìn))
比較器	LCR模式：第1、第3項(xiàng)目的Hi/IN/Lo 分析模式：區(qū)域判斷(各點(diǎn)的Hi/IN/Lo)、峰值判斷(極大、極小的頻率和絕對(duì)值的Hi/IN/Lo)
存儲(chǔ)功能	主機(jī)可保存32000個(gè)數(shù)據(jù)
接口	EXT I/O(handler) RS-232C GP-IB USB(Hi-Speed/Full-Speed) U盤 LAN(10BASE-T/100BASE-TX)
電源	AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
體積和質(zhì)量	約330W×119H×307Dmm，約5.8kg

電源標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)配置

標(biāo)準(zhǔn)配套

可選附件

標(biāo)準(zhǔn)證書

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